草野洸, 渡辺隆, 舟橋琢磨, 藤原孝幸, 輿水大和, ”電子部品検査における単眼視ステレオ計測の高精度化”,電気学会 電子・情報・システム部門大会 講演論文集, pp.400-405(2010.9)
草野洸, 渡辺隆, 舟橋琢磨, 藤原孝幸, 輿水大和, ”単眼視ステレオ法による高精度な電子部品3次元計測の開発”,日本非破壊検査協会 秋季講演大会 講演概要集, pp.225-228(2010.10)
草野洸, 渡辺隆, 舟橋琢磨, 藤原孝幸, 輿水大和, ”単眼視ステレオ計測による電子部品の欠陥検査”,View2010講演論文集, pp.85-89 (2010.12)
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